高精度薄膜測(cè)厚儀THK-01采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度準(zhǔn)確測(cè)量，也成為薄膜厚度測(cè)量?jī)x、塑料薄膜厚度測(cè)試儀、薄膜厚度檢測(cè)儀和薄膜厚度測(cè)定儀等。

薄膜測(cè)厚儀

高精度薄膜測(cè)厚儀主要參數(shù)：

通用名稱：測(cè)厚儀

測(cè)量范圍：0～2mm（標(biāo)配）；0～6mm、0～12mm（選配）

分辨率：0.1μm

測(cè)試速度：1～25次/min

測(cè)量頭平行度：±2μm（機(jī)械調(diào)整，量塊校驗(yàn)）

重復(fù)性：0.3μm

測(cè)量壓力：17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(紙張)；

接觸面積：50mm2(薄膜)； 200mm2 (紙張)；薄膜、紙張任選一種，非標(biāo)可定制

電源：AC220V50Hz/ AC120V60Hz

外形尺寸：300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)

約凈重：30Kg

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

該儀器符合多項(xiàng)國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817