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自動(dòng)薄膜厚度測量儀產(chǎn)品功能特點(diǎn)有哪些?

時(shí)間:2022-04-25 點(diǎn)擊:636次

  自動(dòng)薄膜厚度測量儀是能譜分析方法,屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時(shí),其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì)發(fā)射出各自的特征X射線,不同的元素有不同的特征X射線;探測器探測到這些特征X射線后,將其光信號轉(zhuǎn)變?yōu)槟M電信號;經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬電信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號并送入計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理;計(jì)算機(jī)*的特殊應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息,通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。
  自動(dòng)薄膜厚度測量儀采用X熒光分析技術(shù),可以測定各種金屬鍍層的厚度,包括單層、雙層、多層及合金鍍層等,可以進(jìn)行電鍍液的成分濃度測定。
  自動(dòng)薄膜厚度測量儀能檢測出常見金屬鍍層厚度,無需樣品預(yù)處理;分析時(shí)間短,僅為數(shù)十秒,即可分析出各金屬鍍層的厚度;分析測量動(dòng)態(tài)范圍寬,可從0.005μm到60μm。
  自動(dòng)薄膜厚度測量儀產(chǎn)品功能特點(diǎn):
  1. 新一代國產(chǎn)專業(yè)自動(dòng)薄膜厚度測量儀,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探測器),測量精度和測量結(jié)果業(yè)界。
  2. 采用了FlexFP-Multi技術(shù),無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制,還是來料檢驗(yàn)和材料性能檢驗(yàn)中的隨機(jī)抽檢和全檢,我們都會(huì)提供友好的體驗(yàn)和滿足檢測的需求。
  3. 微移動(dòng)平臺(tái)和高清CCD搭配,旋鈕調(diào)節(jié)設(shè)計(jì)在殼體外部,觀察移動(dòng)位置簡單方便。
  4. X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用,提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件,無損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn),對在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗(yàn)的保障。
  5. 0鍍層測厚儀采用了技術(shù)FlexFp -Multi,不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制,在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度,測試結(jié)果經(jīng)得起科學(xué)驗(yàn)證。
  6. 樣品移動(dòng)設(shè)計(jì)為樣品腔外部調(diào)節(jié),多點(diǎn)測試時(shí)移動(dòng)樣品方便快捷,有助于提升效率。
  設(shè)計(jì)更科學(xué),軟硬件配合,機(jī)電聯(lián)動(dòng),輻射安全高于國標(biāo)GBZ115-2002要求。
  7. 軟件操作具有操作人員分級管理權(quán)限,一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸,測試的記錄。

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